Вафельная касета

Кароткае апісанне:

Вафельная касета– Дакладна распрацаваны для бяспечнага абыходжання і захоўвання паўправадніковых пласцін, забяспечваючы аптымальную абарону і чысціню на працягу ўсяго вытворчага працэсу.


Дэталь прадукту

Тэгі прадукту

Semicera стВафельная касетаз'яўляецца найважнейшым кампанентам у працэсе вытворчасці паўправаднікоў, прызначаным для надзейнага ўтрымання і транспарціроўкі далікатных паўправадніковых пласцін. TheВафельная касетазабяспечвае выключную абарону, забяспечваючы захаванне кожнай пласціны ад забруджванняў і фізічных пашкоджанняў падчас апрацоўкі, захоўвання і транспарціроўкі.

Пабудаваны з высокачыстых, хімікатаўстойлівых матэрыялаў, SemiceraВафельная касетагарантуе найвышэйшы ўзровень чысціні і даўгавечнасці, неабходны для захавання цэласнасці пласцін на кожным этапе вытворчасці. Дакладная тэхналогія гэтых касет дазваляе бесперабойную інтэграцыю з аўтаматызаванымі сістэмамі апрацоўкі, зводзячы да мінімуму рызыку забруджвання і механічных пашкоджанняў.

Дызайн стВафельная касетатаксама падтрымлівае аптымальны паветраны паток і кантроль тэмпературы, што вельмі важна для працэсаў, якія патрабуюць пэўных умоў навакольнага асяроддзя. Незалежна ад таго, выкарыстоўваецца Ці Semicera ў чыстых памяшканнях або падчас тэрмічнай апрацоўкіВафельная касетараспрацавана для задавальнення строгіх патрабаванняў паўправадніковай прамысловасці, забяспечваючы надзейную і стабільную прадукцыйнасць для павышэння эфектыўнасці вытворчасці і якасці прадукцыі.

Прадметы

Вытворчасць

Даследаванні

манекен

Параметры крышталя

Палітып

4H

Памылка арыентацыі паверхні

<11-20 >4±0,15°

Электрычныя параметры

Дапаможнік

Азот п-тыпу

Удзельнае супраціўленне

0,015-0,025 Ом·см

Механічныя параметры

Дыяметр

150,0±0,2 мм

Таўшчыня

350±25 мкм

Першасная плоская арыентацыя

[1-100]±5°

Першасная плоская даўжыня

47,5±1,5 мм

Другасная кватэра

Няма

TTV

≤5 мкм

≤10 мкм

≤15 мкм

LTV

≤3 мкм (5 мм * 5 мм)

≤5 мкм (5 мм * 5 мм)

≤10 мкм (5 мм * 5 мм)

Лук

-15 мкм ~ 15 мкм

-35 мкм ~ 35 мкм

-45 мкм ~ 45 мкм

Дэфармацыя

≤35 мкм

≤45 мкм

≤55 мкм

Пярэдняя (Si-грань) шурпатасць (AFM)

Ra≤0,2 нм (5 мкм*5 мкм)

Структура

Шчыльнасць мікратрубы

<1 эа/см2

<10 эа/см2

<15 эа/см2

Металічныя прымешкі

≤5E10атамаў/см2

NA

БЛД

≤1500 еа/см2

≤3000 еа/см2

NA

ТСД

≤500 эа/см2

≤1000 еа/см2

NA

Пярэдняя якасць

Фронт

Si

Аздабленне паверхні

Si-face CMP

Часціцы

≤60 шт./вафлю (памер ≥0,3 мкм)

NA

Драпіны

≤5ea/мм. Сукупная даўжыня ≤дыяметра

Сукупная даўжыня≤2*Дыяметр

NA

Апельсінавая скарынка/ямкі/плямы/палосы/ расколіны/забруджвання

Няма

NA

Сколы/водступы/пераломы/шасцігранныя пласціны

Няма

Политипные вобласці

Няма

Сукупная плошча≤20%

Сукупная плошча≤30%

Пярэдняя лазерная разметка

Няма

Назад Якасць

Задняя аздабленне

С-гранная CMP

Драпіны

≤5ea/мм, Сукупная даўжыня≤2*Дыяметр

NA

Дэфекты спіны (сколы/водступы па краях)

Няма

Шурпатасць спіны

Ra≤0,2 нм (5 мкм*5 мкм)

Лазерная разметка спіны

1 мм (ад верхняга краю)

край

край

Фаска

Ўпакоўка

Ўпакоўка

Epi-ready з вакуумнай упакоўкай

Мультывафельная касетная ўпакоўка

*Заўвагі: "NA" азначае адсутнасць запыту. Элементы, якія не згадваюцца, могуць адносіцца да SEMI-STD.

тэхн_1_2_разм
SiC пласціны

  • Папярэдняя:
  • далей: